ML까지는 아니고, 그냥 공정을 통해 머든 만들면, 다 똑같지 않고 분포를 갖을텐데 그걸 분석하는 겁니다.
예를들어…회로 시뮬레이션 할때, process corner라고 slow/typical/fast 라고 해서 Vth에 대한 3-sigma 값을 제공하는데 이걸 뽑아내는 것도 있고,
Vth의 random variation에 대한 equation 및 그의 parameter도 분석해야 합니다.
그리고 DRAM이라 치면, cell마다 retention time이 다르거나 (cell capacitor와 transistor의 leakage 편차 때문), 또는 write time (tWR)이 다른데 (contact 저항차이 등) 이런 것도 통계적으로 분석하는 것도 포함합니다.
위의 예시는 그냥 다 단적인 예이고, 점점 공정이 미세화 되다 보니까, 작은 오차도 상대적으로 큰 효과를 내니 통계적으로 어디든 분석을 많이 하는 것 같습니다.